分散型光学系を用いたXAFS測定による実時間分割構造変化観測

松村 大樹; 加藤 和男*

放射光, 34(1), p.3 - 11, 2021/01

分散型光学系を用いたX線吸収微細構造(X-ray absorption fine structure: XAFS)分光法は、機械的に動く機構が無いという特徴から、高い実時間分解能と高い相対精度が期待できる。我々は「その場」かつ「時間分解」XAFS測定システムを立ち上げ、多くの反応系に適用させ、化学反応の真の姿を理解するという目的の下、研究開発を行ってきた。分散型光学系によるXAFS測定のこれまでの研究を概説すると共に、手がけたいくつかの研究例を説明する。

原研軽イオンマイクロビーム装置

神谷 富裕; 須田 保*; 石井 保行; 齋藤 勇一; 田中 隆一

BEAMS 1994: 第5回粒子線の先端的応用技術に関するシンポジウム講演論文集, p.15 - 18, 1994/00

高分解能イオンビーム分析のための軽イオンマイクロビーム装置が製作され、原研3MVシングルエンド加速器のビームラインに設置された。加速器の電圧安定度は110以下である。ビーム集束実験において、ビームサイズ0.40.4m、ビーム電流77pAのビームスポットを達成した。使用したビームは、2MeVのヘリウムである。今回はサブミクロンビーム形成のために設計されたビーム光学系について、及びビームサイズ計測について報告する。

Developments of a JT-60SA Thomson scattering diagnostic

東條 寛; 波多江 仰紀; 佐久間 猛; 濱野 隆; 伊丹 潔; 水藤 哲*; 荒木 高士*; 岩本 耕平*; 武田 裕也*

no journal, , 

JT-60SA Thomson scattering diagnostic will provide profiles of electron temperature and density. This presentation shows developments of a YAG laser system and calibration methods, and designs of collection optics and vacuum windows. For the collection optics to be used for the core measurements, refraction system with five lenses is employed. Dispersing focusing power over multiple lenses enable utilizing radiation resistant lenses. Because the entrance pupil is located inside the lenses, the incident light flux can be efficiently focused using compact lens (diameter 225 mm). The resolution for the image is about 0.6 mm, which is almost the same specification of a previous lens design using four lenses. More than 50% of total transmissivity can be achieved over 480-1064 nm wavelength range: thereby making measurements of high electron temperature ( 30 keV) possible.

分光分析装置

大澤 崇人

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特願 2020-156885  公開特許公報

【課題】白色のスペクトルをもつ照明光を用い、十分な空間分解能と高い利便性をもつ分光分析装置を得る。 【解決手段】入射光学系として回転楕円面形状の反射面をもつ楕円ミラー14が用いられる。照明光Lは、楕円ミラー14によって、例えば試料Sの表面上で可視光の回折限界近くの1μM程度の大きさに集光されて図中左側から試料Sに照射される。この照明光Lに対応した反射光は、前記の入射光学系と対応する出射光学系に入力する。出射光学系は、前記の楕円ミラー14と同一の表面形状を有し中心軸Xに対して対称な構成を具備する楕円ミラー15が設けられる。中心軸X上には、試料Sの表面を撮像する撮像部19を配置することができる。